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Ausschreibung - Elektronenmikroskope in Bonn (ID:10211254)

Übersicht
DTAD-ID:
10211254
Region:
53175 Bonn
Auftragsart:
Archiviertes Dokument
Europäische Ausschreibung
Europäische Ausschreibung
Dokumententyp:
Ausschreibung
Ausschreibung
Verfahrensart:
Verhandlungsverfahren
Kategorien:
Mess-, Kontroll-, Prüf-, Navigationsinstrumente
CPV-Codes:
Elektronenmikroskope
Vergabeordnung:
Lieferauftrag (VOL)
Vergabe in Losen:
nein
Kurzbeschreibung:
Beschaffung eines Focussed-Ion Beam Scanning Elektronenmikroskops (DFG-GZ: A 696). Es soll ein Focussed-Ion Beam Scanning Elektronenmikroskop (FIB-SEM) angeschafft werden. Das anzuschaffende...
Termine und Fristen
DTAD-Veröffentlichung:
27.11.2014
Frist Angebotsabgabe:
29.12.2014
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Beteiligte Firmen & Vergabestellen
Vergabestelle:
Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle
Kennedyallee 40
53175 Bonn
Frau Ute Breuer
Telefon: +49 2288852474
Fax: +49 2288853676
E-Mail: ute.breuer@dfg.de
www.dfg.de

Öffentliche Ausschreibungen
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Gewerbliche Bauvorhaben
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Gewonnene / Vergebene Aufträge
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Geschäftsbeziehungen
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Leistungsbeschreibung
Beschreibung:
Beschaffung eines Focussed-Ion Beam Scanning Elektronenmikroskops (DFG-GZ: A 696).
Es soll ein Focussed-Ion Beam Scanning Elektronenmikroskop (FIB-SEM) angeschafft werden. Das anzuschaffende FIB-SEM dient der dreidimensionalen ultrastrukturellen Analyse neuronalen Gewebes. Es soll im Rahmen von Projekten zum Einsatz kommen, die die hochaufgelöste Darstellung von Geweben aus degenerativen, entzündlichen oder vaskulären neurologischen Erkrankungen umfassen. Hierbei ist von besonderer Bedeutung die Darstellung subzellulärer Strukturen im Gewebekontext mit maximaler (und isotroper) Auflösung in 3D. Zusätzlich ist eine Kompatibilität und ein existierender Workflow für die korrelierte Licht- und Elektronenmikroskopie (CLEM) in ntakten Geweben, z. B. basierend auf der „Near Infrared Branding“ – Technologie (NIRB), erwünscht.
Technische Anforderungen.
Angesichts dieser Nutzungsanforderungen werden die folgenden technischen Eigenschaften als notwendig erachtet:
Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit (Gallium-) Ionenquelle zum Abtragen Nanometer-dicker Gewebsschichten (FIB-SEM) mit der Option des simultanen Gewebsabtrags mittels FIB und Bildgebung durch SEM. Gallium- Ionenquelle mit Option auf hohe Strahlströme (> 70 nA).
Eignung für die Verwendung für die CLEM; Vorliegen geeigneter Workflows zur Re- Identifizierung im Lichtmikroskop dargestellter Strukturen; Kompatibilität mit NIRB- Technologie und neuen seriellen Schnitttechniken und molekularen Analyseverfahren z. B. automated tape lathe ultramicrotomy (ATUM) und array tomography (AT).
Flexibilität im Betrieb bzgl. Vakuum und Schleusengestaltung zur Erweiterung der Anwendungsmöglichkeiten, z. B. durch Einschluss eines Transmissionsdetektors.
Möglichkeit der multimodalen Bildgebung durch Integrierbarkeit multipler Detektoren und deren parallelem Betrieb.
Hohe mechanische und elektromagnetische Toleranz zum Betrieb als zentrale Einrichtung in einem Forschungszentrum; Option der zusätzlich mechanischen und elektromagnetischen Abschirmung.
1 System.

CPV-Codes: 38511000

Erfüllungsort:
TU München.
Nuts-Code: DE212

Verfahren & Unterlagen
Verfahrensart:
Verhandlungsverfahren

Dokumententyp:
Ausschreibung

Vergabeordnung:
Lieferauftrag

Org. Dok.-Nr:
403859-2014

Aktenzeichen:
EXC 1010/2014 (A 696)

Vergabeunterlagen:
Das Aktenzeichen entsprechend Ziff. IV.3.1) ist bei sämtlicher Korrespondenz anzugeben.
Beim Schlusstermin laut Ziff. IV.3.4) handelt es sich um den Schlusstermin für den Eingang der Teilnahmeanträge (nicht für den Eingang der Angebote). Vor Ablauf des Schlusstermins gemäß Ziff. IV.3.4) werden keine Verdingungsunterlagen versendet.

Termine & Fristen
Angebotsfrist:
29.12.2014

Bedingungen & Nachweise
Zahlung:
Anzahlungen bis zur Höhe von max. 50 % des Kaufpreises werden nur gegen unbefristete Bankbürgschaft nach deutschem Recht geleistet.

Zuschlagskriterien:
Wirtschaftlichstes Angebot

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16.05.2015
Vergebener Auftrag
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