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Ausschreibung - Mikroskope in München (ID:5284384)

Auftragsdaten
Titel:
Mikroskope
DTAD-ID:
5284384
Region:
80686 München
Auftragsart:
Europäische Ausschreibung
Europäische Ausschreibung
Dokumententyp:
Ausschreibung
Ausschreibung
Termine und Fristen
DTAD-Veröffentlichung:
16.07.2010
Frist Angebotsabgabe:
29.07.2010
Beteiligte Firmen und Vergabestellen
Vergabestelle:
Zusätzliche Informationen
Kurzbeschreibung:
Raman-Mikroskop-Spektrometer mit Rasterkraftmikroskop. Das Gerät soll zur Charakterisierung von Batteriematerialien u.a. der Struktur und chemischen Analyse von Kohlenstoffgerüsten und verschiedenen oxidischen Materialien dienen. Neben einer chemischen Analyse ist der Rückschluss auf morphologische Einflüsse zu untersuchen, wobei lokale qualitative Informationen hilfreich sind. Daher muss das Messsystem die Messung von Raman-Spektren sowie die Erzeugung eines sichtbaren und AFM-Bildes ohne zwischenzeitliche Bewegung der Probe ermöglichen. Der AFM-Probenkopf muss als Objektiv in das Raman-Mikroskop integrierbar sein.
Kategorien:
Mess-, Kontroll-, Prüf-, Navigationsinstrumente
CPV-Codes:
Mikroskope
Vergabe in Losen:
Ja
Vergabeordnung:
Lieferauftrag (VOL)
Vollständige Bekanntmachung
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Org. Dok.-Nr:  209435-2010

BEKANNTMACHUNG

Lieferauftrag ABSCHNITT I: ÖFFENTLICHER AUFTRAGGEBER
I.1) NAME, ADRESSEN UND KONTAKTSTELLE(N)
Fraunhofer Gesellschaft e.V. Hansastr. 27c z. H. Carla Lönz 80686 München DEUTSCHLAND Tel. +49 891205-3229 E-Mail: einkauf@zv.fraunhofer.de Fax +49 891205-7548 Weitere Auskünfte erteilen: die oben genannten Kontaktstellen Verdingungs-/Ausschreibungs- und ergänzende Unterlagen (einschließlich Unterlagen für den wettbewerblichen Dialog und ein dynamisches Beschaffungssystem) sind erhältlich bei: den oben genannten Kontaktstellen Angebote/Teilnahmeanträge sind zu richten an: Fraunhofer Gesellschaft Nur elektronisch Kontakt: BM 028/240200/CL z. H. Frau Lönz 80686 München DEUTSCHLAND E-Mail: Einkauf@zv.fraunhofer.de
I.2) ART DES ÖFFENTLICHEN AUFTRAGGEBERS UND HAUPTTÄTIGKEIT(EN)
Einrichtung des öffentlichen Rechts Sonstiges Forschung & Entwicklung Der öffentliche Auftraggeber beschafft im Auftrag anderer öffentlicher Auftraggeber Nein ABSCHNITT II: AUFTRAGSGEGENSTAND
II.1) BESCHREIBUNG
II.1.1) Bezeichnung des Auftrags durch den Auftraggeber
Raman-Mikroskop-Spektrometer mit Rasterkraftmikroskop.
II.1.2) Art des Auftrags sowie Ort der Ausführung, Lieferung bzw.
Dienstleistung Lieferauftrag Kauf Hauptlieferort Bremen. NUTS-Code DE501
II.1.3) Gegenstand der Bekanntmachung
Öffentlicher Auftrag
II.1.5) Kurze Beschreibung des Auftrags oder Beschaffungsvorhabens
Das Gerät soll zur Charakterisierung von Batteriematerialien u.a. der Struktur und chemischen Analyse von Kohlenstoffgerüsten und verschiedenen oxidischen Materialien dienen. Neben einer chemischen Analyse ist der Rückschluss auf morphologische Einflüsse zu untersuchen, wobei lokale qualitative Informationen hilfreich sind. Daher muss das Messsystem die Messung von Raman-Spektren sowie die Erzeugung eines sichtbaren und AFM-Bildes ohne zwischenzeitliche Bewegung der Probe ermöglichen. Der AFM-Probenkopf muss als Objektiv in das Raman-Mikroskop integrierbar sein.
II.1.6) Gemeinsames Vokabular für öffentliche Aufträge (CPV)
38510000
II.1.7) Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen (GPA):
Nein
II.1.8) Aufteilung in Lose
Ja sollten die Angebote wie folgt eingereicht werden für alle Lose
II.1.9) Varianten/Alternativangebote sind zulässig:
Nein
II.2) MENGE ODER UMFANG DES AUFTRAGS
II.2.1) Gesamtmenge bzw. -umfang
1 Stück.
II.2.2) Optionen
Nein
II.3) VERTRAGSLAUFZEIT BZW. BEGINN UND ENDE DER AUFTRAGSAUSFÜHRUNG
Dauer in Monaten 4 (ab Auftragsvergabe) ANGABEN ZU DEN LOSEN LOS-Nr.: 1 BEZEICHNUNG: Raman-Mikroskop-Spektrometer
1) KURZE BESCHREIBUNG
Das Gerät soll zur Charakterisierung von Batteriematerialien u.a. der Struktur und chemischen Analyse von Kohlenstoffgerüsten und verschiedenen oxidischen Materialien dienen. Das Messsystem muss die Grundlage schaffen, eine Messung von Raman-Spektren sowie Erzeugung eines sichtbaren Bildes und eines AFM-Bildes ohne zwischenzeitliche Bewegung der Probe zu ermöglichen. Anregungslinien: — 532 nm: 50-4 400 cm-1 Stokes Shift, — 488 nm: 90-4 400 cm-1 Stokes Shift, — 785 nm: 90-3 500 cm-1 Stokes Shift, — automatische, softwaregestützte Fluoreszenz-Unterdrückung, — Anwendung aller Linien ohne aufwendige Demontage/Montage, — Abgleich mit Spektren-Bibliotheken. Spektrale Auflösung: < 3 cm-1. Räumliche Auflösung: 1 μm. Konfokale Tiefenauflösung: 2 μm. Stabilität: — kontinuierliche und automatische Kontrolle der Laser- und Ramanwellenlänge, — äußerst präzise Genauigkeit und Langzeitstabilität der Wellenlänge: 0,1 cm-1. Spektrometer: — Detektor: CCD, 1024x256 Pixel, TE-gekühlt, — zwei Gitter für hohe Auflösung und großen Spektralbereich, — servogesteuerte Blende/Spalt für konfokale Mikroskopie, — automatische Kalibrierung, — Laser-Leistungseinstellung: 100 %, 50 %, 25 %, 10 %, 1 %. Reflexionsmikroskop: — Dunkelfeld/Hellfeld-Beleuchtungseinrichtung, — Trinokular mit 2 Okularen, — digitale Megapixel Videokamera, — manueller Probentisch, — 20x Hellfeld-Objektiv (NA=0,40; AA=1,3 mm), — 50x Hellfeld-Objektiv (NA=0,75; AA=0,38 mm), — temperierbarer Mikroskoptisch ( ca. -120 °C bis ~ 600°C). Nach Anlieferung und Aufstellung soll eine Einführung und ein Gerätetraining durch den Hersteller erfolgen.
2) GEMEINSAMES VOKABULAR FÜR ÖFFENTLICHE AUFTRÄGE (CPV)
38510000
3) MENGE ODER UMFANG
1 Stück.
4) ABWEICHUNG VON DER VERTRAGSLAUFZEIT ODER DEM BEGINN BZW. ENDE DES
AUFTRAGS Laufzeit in Monaten 4 (ab Auftragsvergabe) LOS-Nr.: 2 BEZEICHNUNG: Rasterkraftmikroskop AFM
1) KURZE BESCHREIBUNG
Das Messsystem muss die Messung von Raman-Spektren sowie Erzeugung eines AFM und eines sichtbaren Bildes ohne zwischenzeitliche Bewegung der Probe ermöglichen. Der AFM-Probenkopf muss als Objektiv in das Raman-Mikroskop integrierbar sein. — aufrechtes optisches Mikroskop mit Hellfeld und Dunkelfeld, — Beobachtung sowohl mit Okular als auch Video-Kamera, — Große Probenflächen größer als 100 x 100 μm durch computer-kontrollierten Tisch verfahrbar, — motorisierter z-Trieb zur automatisierten Annäherung der AFM-Spitze zur Probe einschließlich Autofokus-Funktion, — xy-Tisch, — aktiv gedämpfter Tisch mit Schallschutz-Gehäuse, — AFM-Objektiv auf Objektivrevolver des sichtbaren Mikroskops adaptiert (nicht seitlich!), — Ablenkung des AFM-Cantilever über interferometrisches Prinzip registriert und selbst kalibrierend, — Aufnahme über Auslenkung der AFM-Spitze, — Eichungsfreier AFM-Spitzenwechsel, — Scan-Bereich: 40 μm x 40 μm x 4μm, — Schrittmotor für Fokussierung, — Rausch Level: 0,2 nm im Mittel in vertikaler Richtung, — Laterale Genauigkeit: 1 %, — Scan-Geschwindigkeit 1 bis 10 Hz. Detektion: Lichtleit-Interferometrie (Rauschen < 0,01 nm im Mittel).
2) GEMEINSAMES VOKABULAR FÜR ÖFFENTLICHE AUFTRÄGE (CPV)
38510000
3) MENGE ODER UMFANG
1 Stück.
4) ABWEICHUNG VON DER VERTRAGSLAUFZEIT ODER DEM BEGINN BZW. ENDE DES
AUFTRAGS Laufzeit in Monaten 4 (ab Auftragsvergabe) ABSCHNITT III: RECHTLICHE, WIRTSCHAFTLICHE, FINANZIELLE UND TECHNISCHE INFORMATIONEN
III.1) BEDINGUNGEN FÜR DEN AUFTRAG
III.1.2) Wesentliche Finanzierungs- und Zahlungsbedingungen bzw. Verweis
auf die maßgeblichen Vorschriften (falls zutreffend) Siehe Verdingungsunterlagen.
III.1.3) Rechtsform der Bietergemeinschaft, an die der Auftrag vergeben
wird Falls zutreffend gesamtschuldnerisch haftend mit bevollmächtigtem Vertreter.
III.1.4) Sonstige besondere Bedingungen an die Auftragsausführung
Ja — Die unter III.2 geforderten Unterlagen sind spätestens bis zu dem unter
IV.3.4 genannten Termin vollständig vorzulegen. Unvollständige Unterlagen
führen zum Ausschluss, — Bei evtl. Einsatz von Subunternehmern sind diese bereits mit dem Teilnahmeantrag zu benennen. Ihre Eignung ist ebenfalls anhand der aufgeführten Eignungskriterien nachzuweisen, — Bitte senden Sie die geforderten Unterlagen per Email an Einkauf@zv.fraunhofer.de. Vermerken Sie bitte die Bezugsnummer BM 028/240201/CL in der Betreffzeile.
III.2) TEILNAHMEBEDINGUNGEN
III.2.1) Persönliche Lage des Wirtschaftsteilnehmers sowie Auflagen
hinsichtlich der Eintragung in einem Berufs- oder Handelsregister Angaben und Formalitäten, die erforderlich sind, um die Einhaltung der Auflagen zu überprüfen: — Firmenprofil.
III.2.2) Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit
Angaben und Formalitäten, die erforderlich sind, um die Einhaltung der Auflagen zu überprüfen: — Umsätze der letzten 3 Geschäftsjahre, — Eigenerklärung über das ordnungsgemäße Abführen von Steuern und Sozialabgaben, — Eigenerklärung, dass kein Insolvenzverfahren in Eröffnung ist, eröffnet wurde oder mangels Masse abgelehnt wurde.
III.2.3) Technische Leistungsfähigkeit
Angaben und Formalitäten, die erforderlich sind, um die Einhaltung der Auflagen zu überprüfen: — komplette Referenzen von vergleichbaren Projekten, nicht älter als 3 Jahre.
III.2.4) Vorbehaltene Aufträge
Nein ABSCHNITT IV: VERFAHREN
IV.1) VERFAHRENSART
IV.1.1) Verfahrensart
Beschleunigtes nichtoffenes Verfahren Gründe für die Wahl des beschleunigten Verfahrens: Konjunkturprogramm der Bundesregierung.
IV.2) ZUSCHLAGSKRITERIEN
IV.2.1) Zuschlagskriterien
Wirtschaftlich günstigstes Angebot die Kriterien, die in den Verdingungs-/Ausschreibungsunterlagen, der Aufforderung zur Angebotsabgabe oder zur Verhandlung bzw. in der Beschreibung zum wettbewerblichen Dialog aufgeführt sind
IV.2.2) Es wird eine elektronische Auktion durchgeführt
Nein
IV.3) VERWALTUNGSINFORMATIONEN
IV.3.1) Aktenzeichen beim öffentlichen Auftraggeber
BM 028/240200/CL
IV.3.2) Frühere Bekanntmachungen desselben Auftrags
Nein
IV.3.3) Bedingungen für den Erhalt von Verdingungs-/Ausschreibungs- und ergänzenden Unterlagen Die Unterlagen sind kostenpflichtig Nein
IV.3.4) Schlusstermin für den Eingang der Angebote bzw. Teilnahmeanträge
29.7.2010
IV.3.6) Sprache(n), in der (denen) Angebote oder Teilnahmeanträge verfasst werden können
Deutsch. ABSCHNITT VI: ZUSÄTZLICHE INFORMATIONEN
VI.1) DAUERAUFTRAG
Nein
VI.2) AUFTRAG IN VERBINDUNG MIT EINEM VORHABEN UND/ODER PROGRAMM, DAS AUS
GEMEINSCHAFTSMITTELN FINANZIERT WIRD Nein
VI.3) SONSTIGE INFORMATIONEN
Bewerber unterliegen mit der Angebotsabgabe auch den Bestimmungen über nichtberücksichtigte Angebote (§§ 19, 22 EG).
VI.4) NACHPRÜFUNGSVERFAHREN/RECHTSBEHELFSVERFAHREN
VI.4.1) Zuständige Stelle für Nachprüfungsverfahren
Vergabekammer des Bundes beim Bundeskartellamt Kaiser-Friedrich-Str. 16 53175 Bonn DEUTSCHLAND Zuständige Stelle für Schlichtungsverfahren Vergabeprüfstelle des BMBF Referat Z 23 Heinemannstr. 2 53175 Bonn DEUTSCHLAND
VI.4.2) Einlegung von Rechtsbehelfen
Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen: Solange ein wirksamer Zuschlag (Vertragsschluss) noch nicht erteilt ist, kann als Rechtsbehelf ein Nachprüfungsantrag bei der unter VI.4.1 genannten Stelle gestellt werden. Bewerber/Bieter müssen Vergaberechtsverstöße unverzüglich bei der unter I.1 genannten Vergabestelle rügen, bevor sie einen Nachprüfungsantrag stellen. Wir weisen ausdrücklich auf die Antragsfrist des §107 Abs. 3 Satz1 Nr. 4 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) hin. Bieter, deren Angebote nicht berücksichtigt werden sollen, werden vor dem Zuschlag gem. §101a GWB informiert.
VI.5) TAG DER ABSENDUNG DIESER BEKANNTMACHUNG:
14.7.2010
DTAD
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